试块使用说明
1、水平线性（时基线）调整
水平线性也叫扫描线性，决定缺陷定位精度。将直探头放置试块25mm大平底，获取多次底面回波；将B1对准刻度2.0，B5对准10.0，读取B2/B3/B4回波刻度偏差，计算水平线性误差。
2、纵波探测范围与扫描速度校准
探测范围250mm以内，直探头放置25mm大平底；四次底波对准刻度4，十次底波对准刻度10，此时刻度10对应声程250mm；大探测范围可选用试块其他反射面同步修正零点。
3、横波扫描速度校准
试块91mm纵波声程等效横波50mm。例1:1横波比例，直探头对准91mm底面，B1、B2分别调至50、100；更换斜探头对准R100圆弧，最高回波对准刻度100，完成横波时基线校准。
4、分辨力测定
直探头远场分辨力：抑制旋钮置0，探头对准85、91、100反射面，读取回波波峰波谷差值；NB/T47013‑2015要求直探头分辨力≥20dB。
斜探头分辨力：探头对准φ50、φ44、φ40阶梯孔，使φ50、φ44回波等高，计算波峰波谷分贝差；标准要求斜探头分辨力≥12dB。
5、斜探头入射点测定
斜探头置于R100圆弧上方，前后移动探头获取R100曲面最大反射波；试块侧面“0”刻度对应探头楔块位置即为入射点。
6、斜探头K值（折射角）测定
探头波束与试块侧面保持垂直，移动探头找到φ50圆孔最高回波；声束垂直圆孔表面，试块侧面刻度直接读取探头K值；K≤1探头选用下侧刻度，K＞1选用上侧K20/K25/K30刻度。
7、垂直线性测试
仪器抑制关闭；直探头耦合25mm大平底，将底波调满屏；使用衰减器每衰减2dB记录回波高度，直到衰减26dB，观察30dB回波是否存在；对比实测波高与理论波高计算垂直线性偏差。
8、声束轴线偏离测试
斜探头对准试块直角棱角，获取端角最高回波；测量探头几何中心与棱角法线夹角，得到声束偏斜角度，评估探头波束质量。
9、盲区、穿透力评估
利用有机玻璃镶嵌圆孔回波评估直探头盲区；仪器增益调最大，读取有机玻璃底面多次回波，评估仪器‑探头组合最大穿透能力。
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